環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法之標(biāo)準(zhǔn)匯集
更新時(shí)間：2012-01-07 點(diǎn)擊次數(shù)：1513次
GB／T5170．1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則
GB／T5170．2—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB／T5170．5—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB／T5170．8—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB／T5170．9—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
GB／T5170．10—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB／T5170．11—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
GB／T5170．13—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗(yàn)用機(jī)械振動臺
GB／T5170．14—1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗(yàn)用電動眼動臺
GB／T5170．15—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗(yàn)用液壓振動臺
GB／T5170．16—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)
GB／T5170．17—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫／低氣壓／濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
GB／T5170．18—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
GB／T5170．19—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／振動（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備
GB／T5170．20—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
GB／T10586—2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB／T10587—2006鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB／T10588—2006長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB／T10589—1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB／T10590—2006高低溫／低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB／T10591—2006高溫／低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件一
GB／T10592—1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB／T11158—1989高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
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快速溫變試驗(yàn)箱：http://asli898.cn.alibaba.com/athena/companyprofile/asli898.html
加速度沖擊試驗(yàn)機(jī)：http://www.ybzhan.cn/st2092/list_160533.html
溫濕度振動三綜合試驗(yàn)機(jī)：http:///news/class/?1.html
高低溫濕熱交變試驗(yàn)機(jī)：http:///asp-bin/GB/index.asp?page=7&class=60
濕冷凍試驗(yàn)箱：http:///st12126/list_51837.html
