產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 光學(xué)儀器 > 熒光X線膜厚計 > ts-80熒光膜厚計

熒光膜厚計

更新時間：2024-06-24

熒光膜厚計采用中文視窗操作測量系統(tǒng)解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

熒光膜厚計特點：


中文視窗操作測量系統(tǒng)
解析度0．001um， 小測量面積0．1mmΦ
可測量合金層之厚度和組成比例
可測量兩層以上鍍層之個別厚度
藉由光譜分析可判定被測物之元素
適用對象：1C導(dǎo)線架，封裝業(yè)、PCB業(yè)、精密零
件業(yè)、電鍍業(yè)、電子業(yè)。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 
　如果你對ts-80熒光膜厚計感興趣，想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系：

留言框

  • 產(chǎn)品：

  • 您的單位：

  • 您的姓名：

  • 聯(lián)系電話：

  • 常用郵箱：

  • 省份：

  • 詳細(xì)地址：

  • 補充說明：

  • 驗證碼：

    請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

　相關(guān)同類產(chǎn)品：
t-80電鍍膜厚儀  ts-80鍍層測試儀  ts-80鍍膜測試儀 
熒光X線膜厚計