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PCT-45高壓加速老化試驗箱出貨濟南半導體公司
更新時間:2021-05-25   點擊次數:956次

 PCT-45高壓加速老化試驗箱出貨濟南半導體公司

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  高壓加速老化試驗箱(又名PCT高壓加速老化試驗機)主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。內膽采用圓弧設計,符合國家安全容器標準,可以防止試驗結露滴水現象,從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。

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