FiScherSCOp® X—RAY Systenl XDL® 一B及 XDLM@—C4是采用全新數(shù)學(xué)計算方法來進(jìn)行鍍層厚度 的計算, 在加強(qiáng)的軟件功能之下, 簡化了測量比較復(fù) 雜鍍層的程序, 甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下, 一樣 可以測量。 它還采用*的焦距距離計算辦法(DCM), 操作 員現(xiàn)在可以隨時改變焦距測量, 對一些形狀復(fù)雜的工 件尤其方便。 FiSCherSCOp® X—RAY System XDL® 一B及XDLM® —C4功能包括: 特 大及槽口式的測量箱、 向下投射式X—射 線, 方便對位測量、軟件在視窗98下操 作、 可在同一屏幕清楚顯示測量讀數(shù)及 工件的位置。
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